PN二極體是由 P 型半導體 和 N 型半導體 組成。
1-P或N單獨使用
類似電阻的功能
2-空乏區(depletion region)
PN接合面(P-N junction)附近沒有載體(電子或電洞),只有離子之區域
3-障礙電位(potential barrier)
空乏區的離子所產生力量,用以阻止電子、電洞通過接合面
Si二極體 | Ge二極體 |
(零)元件
Si二極體 |
Ge二極體 | 電阻 |
(一)順向電壓降
1) 接線如圖(紅色測試棒接到 VΩ插座,黑色測試棒接到 COM 插座)。
2) 功能範圍選擇開關,選在 ->– 位置。
3) 測試棒另外兩端與二極體並聯。
紅色測試棒另一端接二極體的 P 極,黑色測試棒另 一端接二極體的 N 極。
4) 從液晶顯示器讀取的值為二極體的順向電壓降( )。
(二)順向偏壓V-I曲線
量測 順向電壓 與 順向電流
(三)逆向偏壓V-I曲線
漏電電流
實際的P-N接合面再加上逆向偏壓時,會有一“極小”之電流存在。稱此電流為“漏電電流”。
與逆向偏壓之大小無關,卻與溫度有關。無論鍺或矽,每當溫度升高十度, 就增加為原來的兩倍。
(四)接示波器量動態曲線
使用示波器量測動態曲線時,CH1 和 CH2的負端要接在一起。
CH2的反相功能要打開。